Монография является первым и пока единственным на русском языке систематическим изложением одного из наиболее востребованных направлений структурного тестирования в современной электронике - технологий граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT), а также внутрисхемного тестирования (ICT), и в равной степени может служить как учебником для студентов и преподавателей инженерных, электронных и компьютерных специальностей университетов и колледжей с преподаванием соответств...
Монография является первым и пока единственным на русском языке систематическим изложением одного из наиболее востребованных направлений структурного тестирования в современной электронике - технологий граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT), а также внутрисхемного тестирования (ICT), и в равной степени может служить как учебником для студентов и преподавателей инженерных, электронных и компьютерных специальностей университетов и колледжей с преподаванием соответствующих курсов, так и справочником для инженеров и техников, работающих в промышленности высоких технологий. Книга охватывает введение в стандарты цифрового IEEE (1149.1) и аналогового (1149.4) граничного сканирования, расширение этого стандарта на дифференциальные LVDS-цепи (1149.6), новый двухконтактный JTAG стандарт 1149.7, внутрисхемное конфигурирование ПЛМ и FPGA, структуры СнК и новейший стандарт тестопригодного проектирования микросхем Р1687. В книге сделан обзор наиболее распространенных программно-аппаратных средств поддержки технологии JTAG (ProVision, onTAP, ScanExpress, ScanWorks, XJTAG) и приведено множество примеров, а также введение во внутрисхемное тестирование ICT. Книга «Введение в технологии JTAG и DFT» автора Ами Городецкий оценена посетителями КнигоГид, и её читательский рейтинг составил 0.00 из 10.
Для бесплатного просмотра предоставляются: аннотация, публикация, отзывы, а также файлы для скачивания.
Рецензии на книгу
Написано 0 рецензий