Уведомлений еще не было
6.0
Автор - Девид Майер и Джеффри Лайкер
Подписчики
подписчиков еще нет

Девид Майер и Джеффри Лайкер

Кураторы

Краткая биография автора

На нашем книжном сайте Вы можете скачать книги автора Девид Майер и Джеффри Лайкер в самых разных форматах (epub, fb2, pdf, txt и многие другие). А так же читать книги онлайн и бесплатно на любом устройстве – iPad, iPhone, планшете под управлением Android, на любой специализированной читалке. Электронная библиотека КнигоГид предлагает литературу Девид Майер и Джеффри Лайкер в жанрах .

Творчество Девид Майер и Джеффри Лайкер

На нашем сайте представлены 4 книги автора Девид Майер и Джеффри Лайкер. Самая популярная по мнению наших читателей "".

Управление
6.0
0
0
Талантливые сотрудники. Воспитание и обучение людей в духе дао Toyota
Талантливые сотрудники. Воспитание и обучение людей в духе дао Toyota

Пока большинство руководителей голословно рассуждает о лояльности и ценности сотрудников, Toyota таких сотрудников создает. Именно об этом пишут авторы книги. Чудес не бывает, говорят Лайкер и Майер, равно как и совершенных людей. Из любого человека при должном и терпеливом подходе можно вырастить талант. Авторы утверждают, что результат не преминет сказаться, если в процессе производства и предпр...

0.0
0
0
Введение в высокотемпературное окисление металлов.
Введение в высокотемпературное окисление металлов.

Рассмотрены основные лроцессы, протекающие в металлах и с.плавах при окис- лении, и их термодинамика. Описаны закономерности прямоrо окисления метал- лов и сплавов. Приведены различные реакции в смешанных средах и виды высо- KOTeMnepaTypHoro окисления. Особое внимание уделено методам контроля за- щитной атмосферы и механизму воздейств"я примесей на структуру и свойства образующейся оксид...

Физика
0.0
0
0
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Основы анализа поверхности и тонких пленок

Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов н рентгеновского излучения для анализа структуры н состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложен...

Похожие авторы