УДК 539. 26/. 27(075. 8)
ББК 22. 344я73
А67
Р е ц е н з е н т ы: кафедра физики Белорусского государственного уни-
верситета информатики и радиоэлектроники (заведующий кафедрой доктор
физико-математических наук, профессор Н. Т. Квасов; главный научный со-
трудник лаборатории «Физика твердого тела» Государственного объедине-
ния «Научно-практический центр Национальной академии наук Беларуси по
материаловедению» доктор физико-математических наук, академик Нацио-
нальной академии наук Беларуси Н. М. Олехнович
Все права на данное издание защищены. Воспроизведение всей книги
или любой ее части не может быть осуществлено без разрешения изда-
тельства. Анищик, В. М. А67 Дифракционный анализ : учеб. пособие / В. М. Ани-
щик, В. В. Понарядов, В. В. Углов. – Минск : Выш. шк. ,
2011. – 215 с. : ил.
ISBN 978-985-06-1834-4. Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей,
рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического
применения для исследования кристаллов. Для студентов, специализирующихся в области физики и химии
конденсированного состояния, металлофизики и радиационного ма-
териаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и ис-
следователям. УДК 539. 26/. 27(075. 8)
ББК 22. 344я73
ISBN 978-985-06-1834-4 © Анищик В. М. , Понарядов В. В. , Углов В. В. , 2011
© Издательство «Вышэйшая школа», 2011
Ïðåäèñëîâèå
Исследование структуры вещества прямыми дифракцион-
ными методами – одна из важнейших задач физики конденси-
рованного состояния. Методы рентгеноструктурного анализа
и электронной микроскопии вследствие их доступности и ин-
формативности привлекают все большее внимание ученых,
работающих в различных областях физики твердого тела. Круг объектов, изучаемых этими методами, непрерывно рас-
ширяется, и в настоящее время с учетом возможностей вычис-
лительной техники степень сложности структуры кристалли-
ческого вещества уже не может быть ограничением для при-
менения как рентгеноструктурного анализа, так и электрон-
ной микроскопии. В основу книги положены лекционные курсы, много лет
читаемые авторами для студентов физического факультета
Белорусского государственного университета, специализиру-
ющихся по физикe твердого тела, физике защитных покрытий
и радиационному материаловедению. Кроме того, при написа-
нии книги авторы широко использовали ставшие библиогра-
фической редкостью учебные пособия и монографии, приве-
денные в списке литературы (некоторые главы практически
полностью взяты из них). Отметим, что вопросы отдельных
глав пособия более детально и в большем объеме рассмотре-
ны в вышеупомянутых монографиях и учебных пособиях,
поэтому данную книгу следует считать введением в курс ди-
фракционного анализа, позволяющим ознакомиться с основ-
ными методиками, используемыми при исследовании структу-
ры. В качестве прообраза взяты книги Я. С.